在物理学论文写作中,半导体器件方向对结构严谨性、公式推导和实验数据引用要求极高。我们实验室对豆包(Doubao)进行了可复现任务测试:要求其生成一篇关于“MOSFET短沟道效应”的综述段落,并附带参考文献。测试发现,豆包在结构组织上表现良好,能自动划分“引言-理论-实验-结论”框架,但在公式细节上存在明显缺陷。例如,它输出的阈值电压漂移公式 $\Delta V_{th} = \frac{q N_{sub} x_d}{C_{ox}}$ 中,$x_d$ 被误写为耗尽层宽度而非实际沟道长度调制参数,且未标注单位。这表明豆包对物理符号的语义理解有限,需人工校正。
我们进一步评估了豆包在引用生成上的表现。给定提示词“引用一篇关于FinFET自热效应的2020年论文”,豆包返回了“Smith et al., IEEE TED, 2020”的格式,但经查证,该引用为虚构,卷号页码均不存在。在420篇半导体器件论文的抽样测试中,豆包生成的引用准确率仅为34%,远低于学术发表要求。因此,我们建议将豆包定位为“大纲生成器”而非“内容撰写器”,其输出必须经过严格复核。